為什么電子產(chǎn)品、LED燈具要做HAST高加速老化試驗(yàn)

HAST高加速老化試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱颂岣攮h(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間，隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)（目前業(yè)界常用的THB試驗(yàn)條件為85℃,85% RH,1000 hours）而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。選擇HAST作為產(chǎn)品試驗(yàn)條件前,需先確認(rèn)產(chǎn)品的材料特性是否可承受高溫環(huán)境(130℃/110℃)及高壓應(yīng)力(230/122KPa)，避免因材料特性限制而產(chǎn)生非關(guān)聯(lián)性之失效。