環(huán)境氣候可靠性溫度試驗(yàn)
上海天梯檢測溫度試驗(yàn)，高溫測試，低溫測試，恒溫恒濕測試，溫度交變測試，快速溫度變化測試，溫度沖擊測試
1. 溫度試驗(yàn)概念
本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在溫度氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
溫度范圍：-70℃～150℃，溫差：±0.5℃
濕度范圍：20～98%RH, 濕差：±2.5%RH
2. 溫度試驗(yàn)適用標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法B 高溫
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
IEC 60068-2-2-2007 中文名稱: 環(huán)境測試--第2-2部分:試驗(yàn)--試驗(yàn)B:干熱
IEIA 364
MIL-STD-810F簡體中文版本，基本上國內(nèi)和國外的環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)
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3. 溫度試驗(yàn)具體分類：
高溫試驗(yàn)
本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
低溫試驗(yàn)
本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
- 環(huán)境可靠性步入式溫度測試上一個(gè)：
- 金相分析切片研磨試驗(yàn)下一個(gè)：
